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當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 賽默飛 > 賽默飛波譜儀 > 賽默飛Nexsa G2 X 射線光電子能譜儀
簡(jiǎn)要描述：賽默飛Nexsa G2 X 射線光電子能譜儀可進(jìn)行全自動(dòng)、高通量的表面分析，提供用于推進(jìn)研發(fā)或解決生產(chǎn)問題的數(shù)據(jù)。 集成 XPS 與離子散射譜(ISS)、紫外光電子能譜 (UPS)、反射電子能量損失譜(REELS)和拉曼光譜，讓您進(jìn)行真正的聯(lián)用分析。
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2025-02-19訪 問 量：2753產(chǎn)品分類CLASSIFICATION
詳細(xì)介紹
| 品牌 | Thermofisher Scientific/賽默飛世爾 | 窗口類型 | - |
|---|---|---|---|
| 探測(cè)器面積 | -mm | 最大計(jì)數(shù)率 | -cps |
| 峰背比 | - | 分辨率 | -eV |
| 價(jià)格區(qū)間 | 40萬-50萬 | 探測(cè)器類 | 鋰漂移硅探測(cè)器Si(Li) |
| 儀器種類 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),石油,制藥/生物制藥 |
賽默飛Nexsa G2 X 射線光電子能譜儀標(biāo)準(zhǔn)化性能：
· 絕緣體分析
· 高性能XPS性能
· 深度剖析
· 多技術(shù)聯(lián)合
· 雙模式離子源，使深度剖析功能得到擴(kuò)展
· 用于 ARXPS 測(cè)量的傾斜模塊
· 用于儀器控制、數(shù)據(jù)處理和報(bào)告生產(chǎn)的 Avantage 軟件
· 小束斑分析
可選的升級(jí)：可將多種分析技術(shù)集成到您的檢測(cè)分析中。式自動(dòng)運(yùn)行
· ISS：離子散射譜，分析材料表面1-2原子層元素信息，通過質(zhì)量分辨可分析一些同位素豐度信息。
· UPS：紫外光電子能譜用于分析金屬/半導(dǎo)體材料的價(jià)帶能級(jí)結(jié)構(gòu)信息以及材料表面功函數(shù)信息
· 拉曼：拉曼光譜技術(shù)用于提供分子結(jié)構(gòu)層面的指紋信息
· REELS：反射電子能量損失譜可用于H元素含量的檢測(cè)以及材料能級(jí)結(jié)構(gòu)和帶隙信息
賽默飛Nexsa G2 X 射線光電子能譜儀應(yīng)用領(lǐng)域
· 電池
· 生物醫(yī)藥
· 催化劑
· 陶瓷
· 玻璃涂層
· 石墨烯
· 金屬和氧化物
· 納米材料
· OLED
· 聚合物
· 半導(dǎo)體
· 太陽能電池
· 薄膜
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